基本信息
| 标准名称： | 集成电路静电放电敏感度测试设备校准规范 |
| 英文名称： | Calibration Specification for the Testing System for Microcircuits Electro-static Discharge(ESD)Sensitivity |
| 发布部门： | 国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2010-01-05 |
| 实施日期： | 2010-04-05 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国无线电计量技术委员会 |
| 归口单位： | 全国无线电计量技术委员会 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 吴京燕、陈大为 |
| 出版社： | 中国计量出版社 |
| 出版日期： | 2010-04-05 |
| 页数： | 15页 |
| 书号： | 155026-2480 |
适用范围
本规范适用于集成电路静电放电敏感度测试设备的校准。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 综合 计量 计量综合 计量学和测量 物理现象 长度和角度测量